Tampere University of Technology

TUTCRIS Research Portal

Menetelmä syvällä sijaitsevien EEG-lähteiden mittaamiseksi

Research output: PatentScientific

Details

Original languageEnglish
Patent numberPat. FI 120618 B
Priority date31/12/09
Publication statusPublished - 2009
Publication typeH1 Granted patent

Publication forum classification