TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Johanna Virkki

  1. 2007
  2. Julkaistu

    System level reliability testing for high reliability devices

    Kuusiluoma, S., Kiilunen, J. & Virkki, J., 2007, 9th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC 2007), December 10-12, 2007, Grand Copthorne Waterfront, Singapore. s. 897-901

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  3. 2009
  4. Julkaistu

    Enhanced moisture stress test method for capacitors

    Virkki, J., Frisk, L., Heino, P. & Kuusiluoma, S., 2009, 4th IEEE Conference on ICIEA, Industrial Electronics and Applications, 25-17 May 2009, Xi'an, China. s. 4001-4004

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  5. 2010
  6. Julkaistu

    Accelerated testing for failures of tantalum capacitors

    Virkki, J., Seppälä, T., Frisk, L. & Heino, P., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 2, s. 217-219

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  7. Julkaistu

    Accelerated tests for the effects of power cycling on tantalum capacitors in a humid environment

    Virkki, J. & Raumonen, P., 2010, julkaisussa : Journal of Microelectronics and Electronic Packaging. 7, 2, s. 111-116 6 Sivumäärä

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  8. Julkaistu

    Development of a matrix test board for capacitor reliability testing

    Virkki, J., Koskenkorva, A. & Frisk, L., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 9-11, s. 1711-1714

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  9. Julkaistu

    Improving the standard reliability tests for tantalum capacitors

    Virkki, J., 2010, Tampere: Tampere University of Technology. (Tampereen teknillinen yliopisto. Julkaisu; painos 922)

    Tutkimustuotos

  10. Julkaistu

    Testing the effects of reflow on tantalum capacitors

    Virkki, J., Seppälä, T. & Raumonen, P., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 9-11, s. 1650-1653

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  11. Julkaistu

    Testing the effects of temperature cycling on tantalum capacitors

    Virkki, J. & Tuukkanen, S., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 8, s. 1121-1124

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  12. Julkaistu

    Usability of HTSL and LTSL tests at component level

    Virkki, J. & Tuukkanen, S., 2010, The Seventh International New Exploratory Technologies Conference NEXT 2010, October 19-21, 2010, University of Turku, Finland. s. 1-12 12 Sivumäärä

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  13. 2011
  14. Julkaistu

    Challenges in Qualitative Accelerated Testing of WSN Hardware

    Virkki, J., Chen, L., Zhu, Y. & Meng, Y., 2011, julkaisussa : Engineering. 3, 12, s. 1234-1239

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Edellinen 1 2 3 4 5 6 7 8 ...13 Seuraava

ID: 75693