TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Johanna Virkki

  1. A1 Alkuperäisartikkeli
  2. Julkaistu

    Inkjet-Printed UHF RFID Tags on Renewable Materials

    Virtanen, J., Virkki, J., Ukkonen, L. & Sydänheimo, L., 2012, julkaisussa : Advances in Internet of Things. 2, 4, s. 79-85

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  3. Julkaistu

    Performance of UHF RFID tags printed directly on plywood structures

    Virkki, J., Merilampi, S., Ukkonen, L. & Sydänheimo, L., 2012, julkaisussa : International Journal of RF Technologies. 3, 4, s. 283-302

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  4. Julkaistu

    Challenges in Qualitative Accelerated Testing of WSN Hardware

    Virkki, J., Chen, L., Zhu, Y. & Meng, Y., 2011, julkaisussa : Engineering. 3, 12, s. 1234-1239

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  5. Julkaistu

    Reliability of WSN Hardware

    Virkki, J., Zhu, Y., Meng, Y. & Chen, L., 2011, julkaisussa : International Journal of Embedded Systems and Applications. 1, 2

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  6. Julkaistu

    Testing the Effects of Seacoast Atmosphere on Tantalum Capacitors

    Virkki, J. & Raumonen, P., 2011, julkaisussa : Active and Passive Electronic Components. 2011, s. 1-9 9 Sivumäärä, 108423.

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  7. Julkaistu

    Modifications of the 85/85 test and the temperature cycling test for tantalum capacitors

    Virkki, J., Sydänheimo, L. & Raumonen, P., 2011, julkaisussa : Soldering and Surface Mount Technology. 23, 3, s. 168-176

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  8. Julkaistu

    Testing the effects of reflow on tantalum capacitors

    Virkki, J., Seppälä, T. & Raumonen, P., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 9-11, s. 1650-1653

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  9. Julkaistu

    Accelerated testing for failures of tantalum capacitors

    Virkki, J., Seppälä, T., Frisk, L. & Heino, P., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 2, s. 217-219

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  10. Julkaistu

    Testing the effects of temperature cycling on tantalum capacitors

    Virkki, J. & Tuukkanen, S., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 8, s. 1121-1124

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

  11. Julkaistu

    Development of a matrix test board for capacitor reliability testing

    Virkki, J., Koskenkorva, A. & Frisk, L., 2010, julkaisussa : Microelectronics Reliability. 50, 9-11, s. 1711-1714

    Tutkimustuotosvertaisarvioitu

ID: 75693