TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A comparison of shielded and conventional on-wafer test-fixture forward coupling on silicon-on-insulator (SOI) substrate

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut70-75
JulkaisuMicrowave and Optical Technology Letters
Vuosikerta45
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso