TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A comparison of X-ray methods for structure refinement of Langmuir-Blodgett multilayers

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut206-209
JulkaisuActa Polymerica
Vuosikerta43
Numero4
TilaJulkaistu - 1992
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso