TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A Defect Detection Scheme for Web Surface Inspection

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut735-755
JulkaisuInternational Journal of Pattern Recognition and Artificial Intelligence
Vuosikerta14
Numero6
TilaJulkaistu - 2000
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso