TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A framework for combining statistical and structural pattern retrieval based on feature histograms

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProceedings of the 2007 IEEE Signal Processing Society Workshop, MLSP 2007, Thessaloniki, Greece, 27-29 August 2007
Sivut330-335
TilaJulkaistu - 2007
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso