TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A Method of Speckle Removal in One-Look Sar Images Based on Lee Filtering and Wavelet Denoising

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoNorsig 2000, Nordic Signal Processing Symposium Vildmarkshotellet Kolmården, Sweden, June 13 - June 15, 2000
Sivut243-246
TilaJulkaistu - 2000
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso