TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A novel RFID-enabled strain sensor using the double power measurement technique

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2014 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 1-6 June 2014, Tampa, FL, USA
KustantajaInstitute of Electrical and Electronics Engineers IEEE
Sivut1-4
Sivumäärä4
ISBN (painettu)978·1-4799-3869-8
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaInternational Microwave Symposium -
Kesto: 1 tammikuuta 2014 → …

Conference

ConferenceInternational Microwave Symposium
Ajanjakso1/01/14 → …