TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A novel test fixture with enhsnced signal port isolation capability for on-wafer microwave measurements

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoICMTS 2005. The 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, April 4-7, 2005, Leuven, Belgium
Sivut177-181
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso