TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A Tensile testing machine for a scanning electron microscope, Its structure, properties and applications

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut137-152
JulkaisuPolymer Testing
Vuosikerta5
TilaJulkaistu - 1985
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso