TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Accelerated testing for failures of tantalum capacitors

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut217-219
JulkaisuMicroelectronics Reliability
Vuosikerta50
Numero2
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli