TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Accelerated tests for the effects of power cycling on tantalum capacitors in a humid environment

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut111-116
Sivumäärä6
JulkaisuJournal of Microelectronics and Electronic Packaging
Vuosikerta7
Numero2
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli