TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

A/D converter testing with a networked prototyping board

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoIEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference, sensing, processing, networking, Ottawa, Canada, May 19-21, 1997
Sivut1454-1459
TilaJulkaistu - 1997
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso