TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

AFM tip characterization by Kelvin probe force microscopy

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1-14
Sivumäärä14
JulkaisuNew Journal of Physics
Vuosikerta12
Numero093024
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso

Tilastokeskuksen tieteenalat