TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Agile linear interferometric method for carrier-envelope phase drift measurement

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut836-838
JulkaisuOptics Letters
Vuosikerta37
Numero5
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso

Tilastokeskuksen tieteenalat