TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

An Experimental Study of Scalability in Shield-Based On-Wafer CMOS Test Fixtures

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut945-953
JulkaisuIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Vuosikerta52
Numero3
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso