An improved model for ground-shielded CMOS test fixtures
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 82-87 |
Julkaisu | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques |
Vuosikerta | 54 |
Numero | 1 |
Tila | Julkaistu - 2006 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |