TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

An X-Ray Diffraction Study of the Effect of Rapid Thermal Annealing on GaAs Layers on Si Substrates

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1-49
Sivumäärä49
JulkaisuMaterials Letters
Vuosikerta10
TilaJulkaistu - 1990
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso