TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Analysis of surface morphology in GaAsBi epitaxy

Tutkimustuotos: Konferenssiesitys, posteri tai abstrakti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 18 helmikuuta 2019
OKM-julkaisutyyppiEi OKM-tyyppiä
Tapahtuma20th European Workshop on Molecular Beam Epitaxy - Lenggries, Saksa
Kesto: 17 helmikuuta 201920 helmikuuta 2019

Conference

Conference20th European Workshop on Molecular Beam Epitaxy
MaaSaksa
KaupunkiLenggries
Ajanjakso17/02/1920/02/19