TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Application of a multiline material characterization method to inkjet printed electronics

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivumäärä7
JulkaisuInternational Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli