TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Application of wide-band material characterization methods to printable electronics

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut221-227
JulkaisuIEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing
Vuosikerta33
Numero3
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli