TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Application of wide-band material parameter extraction techniques to printable electronics characterization

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoECTC 2009, 59th Electronic Components & Technology Conference, May 26-29, 2009, San Diego, USA
Sivut1342-1348
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso