TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Bayesian error estimation and model selection in sparse logistic regression

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2013 IEEE International Workshop on Machine Learning for Signal Processing, 22-25 September 2013, Southampton, UK
KustantajaInstitute of Electrical and Electronics Engineers IEEE
Sivut1-6
Sivumäärä6
ISBN (painettu)978-1-4799-1180-6
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

NimiIEEE International Workshop on Machine Learning for Signal Processing
ISSN (painettu)1551-2541

Julkaisufoorumi-taso