TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Bi incorporation and the role of surface droplets in GaAsBi epitaxy

Tutkimustuotos: Konferenssiesitys, posteri tai abstrakti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 16 heinäkuuta 2018
OKM-julkaisutyyppiEi OKM-tyyppiä
Tapahtuma9th International Workshop on Bismuth-Containing Semiconductors - Kyoto, Japani
Kesto: 15 heinäkuuta 201818 heinäkuuta 2018

Conference

Conference9th International Workshop on Bismuth-Containing Semiconductors
MaaJapani
KaupunkiKyoto
Ajanjakso15/07/1818/07/18