TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Blind Prediction of Original Image Quality for Sentinel Sar Data

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2019 8th European Workshop on Visual Information Processing (EUVIP)
KustantajaIEEE
Sivut105-110
Sivumäärä6
ISBN (elektroninen)978-1-7281-4496-2
ISBN (painettu)978-1-7281-4497-9
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1 lokakuuta 2019
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaEUROPEAN WORKSHOP ON VISUAL INFORMATION PROCESSING -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Julkaisusarja

NimiEuropean Workshop on Visual Information Processing
ISSN (painettu)2164-974X
ISSN (elektroninen)2471-8963

Conference

ConferenceEUROPEAN WORKSHOP ON VISUAL INFORMATION PROCESSING
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

Synthetic aperture radar (SAR) images are often subject to visual inspection and analysis. Many factors impact on visual quality of SAR images, such as properties of speckle, dynamic range of data, etc. Thus, the corresponding metrics have to be applied and it is worth predicting their values before one starts analyzing images. Using a set of input parameters (both statistical and spectral) and a trained neural network (NN), we show that full-reference visual quality metrics can be predicted for images acquired by modern SAR Sentinel-1. A prediction accuracy is studied and verified on real-life examples. The source codes and datasets will be made publicly available at https://github.com/asrubel/EUVIP2019.

Tutkimusalat

Julkaisufoorumi-taso