TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Challenges in Qualitative Accelerated Testing of WSN Hardware

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1234-1239
JulkaisuEngineering
Vuosikerta3
Numero12
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli