Characterisation of droplet-epitaxial GaAs/AlGaAs quantum dot and quantum ring systems using grazing incidence X-ray diffraction
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 75-81 |
Julkaisu | Materials Science in Semiconductor Processing |
Vuosikerta | 12 |
Numero | 1-2, Spec.Issue |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 2009 |
Julkaistu ulkoisesti | Kyllä |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |