TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Characterisation of droplet-epitaxial GaAs/AlGaAs quantum dot and quantum ring systems using grazing incidence X-ray diffraction

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut75-81
JulkaisuMaterials Science in Semiconductor Processing
Vuosikerta12
Numero1-2, Spec.Issue
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2009
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso