Characterisation of droplet-epitaxial GaAs/AlGaAs quantum dot and quantum ring systems using grazing incidence X-ray diffraction
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Sivut | 75-81 |
| Julkaisu | Materials Science in Semiconductor Processing |
| Vuosikerta | 12 |
| Numero | 1-2, Spec.Issue |
| DOI - pysyväislinkit | |
| Tila | Julkaistu - 2009 |
| Julkaistu ulkoisesti | Kyllä |
| OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |