TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Charged cable-system ESD event

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2016 38th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD)
KustantajaIEEE
ISBN (elektroninen)978-1-5853-7289-8
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 18 lokakuuta 2016
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

A charged electronic system failed while it was connected to a USB port. The resulting discharge current waveform had a sub-nanosecond initial peak that bypassed on-board protection devices. In this study the ESD stress waveform is analyzed with simulation and measurement methods.

Tutkimusalat

Julkaisufoorumi-taso