TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Comments on "A shield-based three-port de-embedding method for microwave on-wafer characterization of deep-submicrometer silicon MOSFETs"

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1295-1296
JulkaisuIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Vuosikerta54
Numero3
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso