TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Common rectifier diodes in thermal stability characterization measurements

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1-5
Sivumäärä5
JulkaisuIEEE Transactions on Applied Superconductivity
Vuosikerta23
Numero3
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli