TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Consitency Profile Measurement in Pulp Based on Electrical Impedance Tomography

Tutkimustuotos

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoXVII IMEKO World Congress. Metrology in the 3rd Millennium. Book of Summaries. Proceedings. June 22-27, 2003, Dubrovnik, Croatia. HMD - Croatian Metrology Society, Zagreb, Croatia
ToimittajatD. Ilic, M. Borsic, J. Butorac
Sivut1157-1160
TilaJulkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppiB3 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso