Contribution of the numerical approach to kelvin probe force microscopy on the atomic-scale
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|
| Otsikko | Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces |
|---|
| Julkaisupaikka | Berlin, Germany |
|---|
| Kustantaja | Springer |
|---|
| Sivut | 69-97 |
|---|
| Sivumäärä | 29 |
|---|
| ISBN (elektroninen) | 978-3-642-22566-6 |
|---|
| ISBN (painettu) | 978-3-642-22565-9 |
|---|
| DOI - pysyväislinkit | |
|---|
| Tila | Julkaistu - 2012 |
|---|
| OKM-julkaisutyyppi | A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa |
|---|
| Nimi | Springer Series in Surface Sciences |
|---|
| Kustantaja | Springer |
|---|
| Vuosikerta | 48 |
|---|
| ISSN (painettu) | 0931-5195 |
|---|
