TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Contribution of the numerical approach to kelvin probe force microscopy on the atomic-scale

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoKelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
JulkaisupaikkaBerlin, Germany
KustantajaSpringer
Sivut69-97
Sivumäärä29
ISBN (elektroninen)978-3-642-22566-6
ISBN (painettu)978-3-642-22565-9
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa

Julkaisusarja

NimiSpringer Series in Surface Sciences
KustantajaSpringer
Vuosikerta48
ISSN (painettu)0931-5195

Julkaisufoorumi-taso

Tilastokeskuksen tieteenalat