TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Depth profiles of defects in CdTe (100) overlayers grown by molecular beam epitaxy on GaAs(100)

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut973-974
JulkaisuApplied Physics Letters
Vuosikerta51
Numero13
TilaJulkaistu - 1987
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso