TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Development of a matrix test board for capacitor reliability testing

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1711-1714
JulkaisuMicroelectronics Reliability
Vuosikerta50
Numero9-11
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli