Development of a matrix test board for capacitor reliability testing
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Sivut | 1711-1714 |
| Julkaisu | Microelectronics Reliability |
| Vuosikerta | 50 |
| Numero | 9-11 |
| DOI - pysyväislinkit | |
| Tila | Julkaistu - 2010 |
| OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |