Development of a matrix test board for capacitor reliability testing
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 1711-1714 |
Julkaisu | Microelectronics Reliability |
Vuosikerta | 50 |
Numero | 9-11 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 2010 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |