TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Discrete transistor measuring and matching using a solid core oven

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli034703
Sivumäärä9
JulkaisuReview of Scientific Instruments
Vuosikerta84
Numero3
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli