TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Distance of sample measurement points to prototype catalog curve

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoMathematics for Industry in Denmark: The ESGI47 and Mathematics for Industry Workshop, 24-29 August 2003, Univeristy of Southern Denmark. Journal of Physics: Conference Series
Sivut27-35
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso