TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Distinguishing between low symmetries when determining the nonlinearity of chiral thin films

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoLinear and Nonlinear Optics of Organic Materials V, 2-4 August 2005, San Diego, California, USA. Proceedings of SPIE
ToimittajatM. Eich
Sivut9 p
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso