TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Electrical and thermal viewpoints for designing conduction-cooled specimen holder for short sample testing

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1211-1214
JulkaisuPhysics Procedia
Vuosikerta36
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli