TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Electronic and structural properties of GaAs(100)(2X4) and InAs(100)(2X4) surfaces studied by core-level photoemission and scanning tunneling microscopy

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivutpp. 045321--1-9
Sivumäärä9
JulkaisuPhysical Review
VuosikertaB72
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso