TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Evaluating the electrode measurement sensitivity of subdermal electroencephalography electrodes

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoInternational IEEE/EMBS Conference on Neural Engineering, NER
KustantajaIEEE COMPUTER SOCIETY PRESS
Sivut1092-1095
Sivumäärä4
Vuosikerta2015-July
ISBN (painettu)9781467363891
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1 heinäkuuta 2015
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaInternational IEEE/EMBS Conference on Neural Engineering -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceInternational IEEE/EMBS Conference on Neural Engineering
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä