TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Failure Mode Characterization in Inkjet-Printed CPW Lines Utilizing a High-Frequency Network Analyzer and Post-Processed Tdr Analysis

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1-14
Sivumäärä14
JulkaisuProgress in Electromagnetics Research C
Vuosikerta43
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli