TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Field Collapse Event ESD Test Method

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2014 36TH Electrical overstress/electrostatic discharge symposium (EOS/ESD)
KustantajaIEEE COMPUTER SOC
Sivumäärä6
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Julkaisusarja

NimiElectrical Overstress Electrostatic Discharge Symposium
KustantajaIEEE COMPUTER SOC
ISSN (painettu)0739-5159

Conference

ConferenceELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

A novel field collapse event ESD test method is presented in this paper. The device under test is continuously grounded in an electrostatic field and when the field is removed it drives current through the device. We show with measurements and simulations how to use this method to test ESD immunity of electronic products.