TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

High-Temperature Storage Testing of ACF Attached Sensor Structures

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut8641-8660
JulkaisuMaterials
Vuosikerta8
Numero12
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli