TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Image deconvolution and noise control

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoNonlinear Image Processing and Pattern Analysis XII, Proceedings of SPIE, The International Society for Optical Engineering, 22 - 23 January, 2001 San Jose, USA
ToimittajatE. R. Dougherty, J. Astola
Sivut277-287
TilaJulkaistu - 2001
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso