TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Interpretation of orientational contrast in STM images of GaAs(110) cleavage surface

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut27-34
JulkaisuSurcface Science
Vuosikerta584
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso