TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Linear optics in the second-order characterization of thin films

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoICONO 2005, Nonlinear optical phenomena, 11-15 May 2005, St.Petersburg, Russia. Proceedings of SPIE
ToimittajatK. Drabovich
Sivutpp. 62590K-1-9
Sivumäärä9
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso