TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Linear optics in the second-order characterization of thin films

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut492-495
JulkaisuChemical Physics Letters
Vuosikerta419
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso