TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Menetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
PatenttinumeroPat. FI 115075 B
Prioriteetti päiväys28/02/05
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

Julkaisufoorumi-taso