Menetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi
Tutkimustuotos: Patentti ›
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Patenttinumero | Pat. FI 115075 B |
| Prioriteetti päiväys | 28/02/05 |
| Tila | Julkaistu - 2005 |
| OKM-julkaisutyyppi | H1 Myönnetty patentti |