TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi.

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Patenttinumero89583
Prioriteetti päiväys6/07/94
TilaJulkaistu - 1994
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

Julkaisufoorumi-taso